단국대, 디스플레이 나노박막 표면 고속측정기 개발

[이데일리 신하영 기자] 단국대 연구진이 디스플레이에 적용하는 나노박막 표면의 불량 여부를 고속 측정하는 장비를 세계 최초로 개발했다.

한관영 교수(오른쪽 첫 번째)와 개발에 참여한 연구진(사진=단국대 제공)

단국대는 한관영 전자전기공학부 교수가 이러한 연구성과를 거뒀다고 22일 밝혔다.

통상 디스플레이는 표면에 20~40nm 두께의 나노박막을 입혀 매끄럽게 처리하는 과정을 거친다. 지금까진 나노박막의 불량 여부를 확인하려면 투과전자현미경이나 원자·주사전자현미경으로 표면의 증착 정도를 판별해야 했다.

이런 기존 기술은 시간이 오래 걸리고 정량적 측정이 어렵다는 단점이 있었다. 특히 플랙시블 디스플레이는 양면 접착이 가능한 광학용투명접착필름(OCA)을 사용해야 하기에 접히는 부분에서 들뜸 현상이 발생, 시트 전체를 폐기하는 일도 많았다.

한 교수는 ㈜파웰 코포레이션의 지원을 받아 디스플레이 기판의 나노박막 표면을 고해상 카메라로 촬영 후 각 표면의 에너지를 측정해 불량 여부를 판별하는 장비를 개발했다. 8인치 디스플레이 전 면적을 40초 이내로 측정할 수 있어 단시간 내 불량 여부 판독이 가능하다. 이를 활용하면 각 나노박막 필름의 불량 여부를 사전 검사 후 양품 자재만 사용할 수 있다.

연구진은 이번 기술 개발이 관련 업계의 비용 절감과 생산성 향상에 기여할 것으로 보고 있다. 한관영 교수는 “디스플레이의 빠른 변천과 제품의 고도화에 발맞춰 평가기술이 개발되지 못해 기업에서 개발자재·양산자재의 손실비가 증가하는 문제에 착안해서 장비를 개발하게 됐다”라며 “각광받는 AR, VR에 대한 광학계 연구와 검사기술 개발, 마이크로 LED 전사와 재생 등 응용기술 개발도 진행 중”이라고 했다.

단국대는 “한 교수의 연구성과는 지난 해 12월 세계3대 정보디스플레이 컨퍼런스 가운데 하나인 일본의 IDW(Information Display Workshops)에서 됐으며 현재 핵심 특허 출원 신청을 마쳤다”며 “5월 미국에서 열리는 세계 최고 권위의 디스플레이 행사인 SID(Society for Information Display)에서도 관련 기술을 선보일 예정”이라고 설명했다.